Geräte/Mikroskope für den Blick in die Mikro- und Nanowelt:

Oberflächen-Messsensor zur optischen und topographischen Untersuchung:

Prinzipskizze zur hochauflösenden Nahfeldspektroskopie (Stichwort: optische Nahfeldmikroskopie):

Prinzipskizze zur hochauflösenden Rasterkraftmikroskopie (engl.: Scanning Force Microscopy bzw. Atomic Force Microscopy, AFM):